臺(tái)式掃描電子顯微鏡（Desktop SEM）作為傳統(tǒng)大型SEM的重要補(bǔ)充，以其便捷性和靈活性在多個(gè)領(lǐng)域展現(xiàn)出應(yīng)用價(jià)值。澤攸ZEM20便是該類(lèi)別中一個(gè)值得關(guān)注的型號(hào)，它集成了多項(xiàng)實(shí)用技術(shù)，為用戶提供了納米尺度觀測(cè)的解決方案。

產(chǎn)品細(xì)節(jié)與用材方面，ZEM20在設(shè)計(jì)上考慮了用戶的操作體驗(yàn)與設(shè)備的長(zhǎng)期穩(wěn)定性。其鏡體部分通常采用金屬材料構(gòu)建，確保了真空腔體的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性和抗干擾能力。樣品室設(shè)計(jì)注重實(shí)用性，提供了適中的樣品空間，并配備了可電動(dòng)控制的樣品臺(tái)，允許用戶在低真空模式下快速更換樣品，提升了工作效率。探測(cè)系統(tǒng)是電鏡的核心，ZEM20采用了高性能的背散射電子（BSE）探測(cè)器，其材料選擇對(duì)探測(cè)效率至關(guān)重要，確保了在不同加速電壓下能有效收集樣品成分對(duì)比信息。

產(chǎn)品性能與參數(shù)是衡量一臺(tái)電鏡的關(guān)鍵。ZEM20在不同模式下表現(xiàn)出其特點(diǎn)。在高真空模式下，它能提供良好的圖像分辨率，適用于大多數(shù)常規(guī)材料的微觀形貌觀察。其低真空模式允許直接觀察不導(dǎo)電或含水樣品，無(wú)需進(jìn)行復(fù)雜的噴金預(yù)處理，這大大簡(jiǎn)化了制樣流程，尤其適用于生物、高分子材料等領(lǐng)域。其加速電壓可在一定范圍內(nèi)調(diào)節(jié)，以適應(yīng)不同材質(zhì)的樣品，避免對(duì)敏感樣品造成損傷。

主要用途：ZEM20廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)（如金屬、陶瓷、半導(dǎo)體缺陷分析）、生命科學(xué)（如昆蟲(chóng)、植物組織、骨骼）、化工（如催化劑、粉末顆粒）以及高等教育和工業(yè)質(zhì)檢（如電子產(chǎn)品失效分析）等領(lǐng)域。它非常適合作為實(shí)驗(yàn)室的日?？焖贆z測(cè)工具，或用于教學(xué)演示。

使用說(shuō)明：操作流程已大為簡(jiǎn)化。開(kāi)機(jī)后，軟件系統(tǒng)會(huì)引導(dǎo)用戶完成抽真空等準(zhǔn)備步驟。放置樣品后，用戶可通過(guò)軟件界面選擇觀察模式（高真空或低真空）、調(diào)節(jié)加速電壓和束流強(qiáng)度。然后利用電動(dòng)樣品臺(tái)移動(dòng)視野，并配合聚焦和像散校正功能，即可獲得清晰的二次電子或背散射電子圖像。澤攸提供的操作軟件通常集成了圖像采集、測(cè)量和標(biāo)注功能，方便用戶進(jìn)行后續(xù)分析。

參數(shù)表（示例）：