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澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡便，僅需鼠標即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調節(jié)光闌。

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ZEM 20Pro單晶燈絲臺式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬倍，分辨率可達3nm。自動亮度對比度、自動聚焦、大圖拼接。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺，滿足不同實驗及檢測需求。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量，并可在電學測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結構、化學組分、元素價態(tài)進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領域。

澤攸臺式掃描電子顯微鏡輔助文物保護研究文物是歷史文化的重要載體，其保護和研究對于傳承人類文明具有重要意義。澤攸 ZEM15 臺式掃描電子顯微鏡，以其對文物微觀結構的精細觀察能力，為文物保護研究提供了科學的技術手段，幫助文物保護工作者深入了解文物的材質特性、老化機制和修復方法。

澤攸臺式掃描電子顯微鏡賦能陶瓷材料研究陶瓷材料憑借其耐高溫、耐腐蝕、硬度高等優(yōu)良特性，在工業(yè)、電子、醫(yī)療等多個領域有著廣泛應用。澤攸 ZEM15 臺式掃描電子顯微鏡，以其對陶瓷材料微觀結構的清晰觀察能力，為陶瓷材料的研究、開發(fā)和質量控制提供了重要支持，推動陶瓷材料行業(yè)的技術進步。