Bruker白光干涉儀（如ContourGT系列）是一款基于白光干涉原理的三維光學(xué)表面輪廓儀，專為高精度、非接觸式表面測量而設(shè)計。該設(shè)備采用優(yōu)良的64位多核處理器和Vision64軟件，支持高速數(shù)據(jù)處理和分析，適用于多種復(fù)雜表面的測量需求。Bruker白光干涉儀高效非接觸式表面測量工具

在性能方面，設(shè)備具備高分辨率和高穩(wěn)定性，支持大視野范圍內(nèi)的亞埃級至毫米級垂直測量，適用于微米級至宏觀尺寸的表面形貌測量。設(shè)備支持多種樣品臺和自動聚焦功能，便于靈活調(diào)整測量參數(shù)。

Bruker白光干涉儀廣泛應(yīng)用于科研、制造業(yè)和質(zhì)量控制領(lǐng)域，適用于LED、半導(dǎo)體、醫(yī)療設(shè)備、汽車工業(yè)等行業(yè)的表面形貌、粗糙度和三維輪廓測量。其非接觸式測量方式確保了樣品的完整性和測量的可靠性。Bruker白光干涉儀高效非接觸式表面測量工具

產(chǎn)品性能方面，Bruker白光干涉儀具備高精度和高分辨率，垂直測量范圍可達0.1nm至1mm，垂直分辨率小于0.1nmRa，RMS重現(xiàn)性可達0.01nm。設(shè)備支持多種測量模式，如相移干涉（PSI）和垂直掃描干涉（VSI），適用于不同表面特性樣品的測量。

在操作方面，設(shè)備配備直觀的用戶界面和優(yōu)化的分析軟件，支持數(shù)據(jù)處理速度提升幾十倍，分析速度提升十倍，支持數(shù)據(jù)無縫拼接和可視化操作工具，便于用戶快速完成測量和分析。

Bruker白光干涉儀適用于LED、半導(dǎo)體、太陽能、醫(yī)療設(shè)備、MEMS等領(lǐng)域的表面形貌和粗糙度測量，是科研和工業(yè)應(yīng)用中的理想選擇。