布魯克非接觸式三維測量多場景解決方案

ContourX-500作為布魯克推出的臺式三維光學(xué)輪廓儀，以非接觸式白光干涉技術(shù)為核心，為工業(yè)檢測與實驗室研究提供了靈活的三維形貌測量方案。其核心優(yōu)勢在于將落地式白光干涉儀的功能集成于緊湊機(jī)身，占地面積減少40%，同時保持垂直分辨率0.1nm、橫向分辨率0.35μm的性能指標(biāo)，可覆蓋從納米級薄膜到毫米級臺階的測量需求。

技術(shù)架構(gòu)與核心性能
設(shè)備采用模塊化設(shè)計，光源模塊搭載雙色LED照明系統(tǒng)，波長范圍覆蓋可見光至近紅外，通過多波段濾波器適配不同反射率樣品。干涉鏡頭組支持5種物鏡切換（2.5X-50X），工作距離10-45mm，結(jié)合自動測頭傾斜功能（±6°），可實現(xiàn)復(fù)雜曲面（如渦輪葉片、微透鏡陣列）的無損檢測。樣品臺采用氣動減震設(shè)計，承重達(dá)8kg，XY軸移動范圍100mm×100mm，配合編碼器反饋系統(tǒng)，定位重復(fù)性優(yōu)于0.1μm。

材料與工藝的可靠性保障
光學(xué)部件選用高純度熔融石英玻璃，透光率超91%，熱膨脹系數(shù)低至5.6×10??/℃，確保溫度波動下光學(xué)路徑穩(wěn)定。鏡頭組表面鍍氧化硅與氟化鎂復(fù)合增透膜，反射率≤0.6%，提升干涉條紋對比度。機(jī)械結(jié)構(gòu)方面，底座采用高強(qiáng)度鑄鐵，有效吸收振動；臺面為304不銹鋼精密研磨，平整度誤差≤1.5μm，長期使用不形變。

典型應(yīng)用場景
在半導(dǎo)體制造中，設(shè)備可檢測晶圓表面顆粒污染（0.1μm級）與TSV通孔側(cè)壁粗糙度；在汽車行業(yè)，用于分析發(fā)動機(jī)氣門密封面磨損（深度≥9μm區(qū)域自動標(biāo)記）；在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，可表征組織工程支架的孔隙率與拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。某光學(xué)鏡片廠商通過設(shè)備測量曲面誤差PV值，將加工良率從82%提升至94%。

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