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澤攸臺式掃描電鏡
澤攸ZEM20掃描顯微鏡在行業(yè)中的典型應用




產品簡介
澤攸ZEM20掃描顯微鏡在行業(yè)中的典型應用澤攸?ZEM20 通過緊湊結構、可靠真空、靈活的自動化功能以及完善的維護體系,為材料科學、能源、生命科學等多個領域提供了穩(wěn)定、可重復的微觀表征平臺。
產品分類
澤攸ZEM20掃描顯微鏡在行業(yè)中的典型應用
| 應用領域 | 典型樣品 | 推薦模式 | 關鍵設置 |
|---|---|---|---|
| 鋰電正極顆粒 | NCM 粉末 | BSE?+?低壓 (10?kV) | 導電膠、工作距離 ≈?8?mm |
| 金屬粉末 | 316L 粉末 | SE?+?拼圖 (15?kV) | 5?×?5 陣列,Z 步進 60?µm |
| 生物濾膜 | 聚碳酸酯核孔膜 | SE?+?低壓 (3?kV) | 5?nm 金層鍍膜,工作距離 ≈?5?mm |
| 元素分析 (EDS) | Cu?Zn 合金 | BSE?+?EDS (7?15?kV) | SDD 探測器,計數(shù)率 30?kcps,能量分辨率 ≤?129?eV |
鋰電顆粒:10?kV、50?pA 條件下,BSE 成像可分辨 30?nm 裂紋,低壓模式避免充電。
金屬粉末:利用 5?×?5 拼圖功能,自動 Z 軸移動 60?µm,得到大景深全景圖,孔洞對比度 >?0.3,便于孔隙率統(tǒng)計。
生物濾膜:5?nm 金層抑制充電,3?kV 低壓下孔徑 200?nm 清晰可見,適合細胞捕獲后計數(shù)。
EDS:配備 30?mm2 SDD 探測器,Mn?Kα 能量分辨率 129?eV(計數(shù)率 50?kcps),可實現(xiàn) B?C?N?O 輕元素的定量分析。
結語
澤攸?ZEM20 通過緊湊結構、可靠真空、靈活的自動化功能以及完善的維護體系,為材料科學、能源、生命科學等多個領域提供了穩(wěn)定、可重復的微觀表征平臺。以上六篇推廣文章從硬件構成、成像性能、材料工藝、操作指南、環(huán)境要求到典型應用,系統(tǒng)展示了 ZEM20 的技術優(yōu)勢與實際價值,幫助實驗室快速評估并實現(xiàn)采購與使用。
澤攸ZEM20掃描顯微鏡在行業(yè)中的典型應用
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