解密布魯克 ContourX-100:參數(shù)與用材細(xì)節(jié)
布魯克三維光學(xué)輪廓儀 ContourX-100 作為一款用于表面形貌測(cè)量的設(shè)備,在工業(yè)檢測(cè)、材料研發(fā)等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛,其參數(shù)配置與用材選擇是保障測(cè)量效果和設(shè)備穩(wěn)定性的重要基礎(chǔ)。

核心參數(shù)方面,ContourX-100 的測(cè)量范圍覆蓋多個(gè)關(guān)鍵維度。垂直測(cè)量范圍能夠應(yīng)對(duì)從微小納米級(jí)臺(tái)階到一定毫米級(jí)高度差的測(cè)量需求,適配不同厚度、高度的樣品表面形貌分析;水平測(cè)量范圍則可根據(jù)樣品尺寸靈活調(diào)整,常規(guī)配置下能容納多數(shù)中小型樣品,同時(shí)支持通過(guò)擴(kuò)展組件適配更大規(guī)格樣品,滿足多樣化測(cè)量場(chǎng)景。分辨率表現(xiàn)上,垂直分辨率可達(dá)到較低的納米級(jí)別,能捕捉到樣品表面細(xì)微的高度變化,水平分辨率也處于行業(yè)常用的精細(xì)水平,可清晰呈現(xiàn)樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。測(cè)量速度提供多檔調(diào)節(jié)模式,快速模式適合初步篩查與大面積樣品掃描,精細(xì)模式則用于獲取更詳實(shí)的微觀形貌數(shù)據(jù),不同模式下的測(cè)量時(shí)間會(huì)依據(jù)樣品尺寸和參數(shù)設(shè)置有所差異,用戶可根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求靈活選擇。
用材選擇上,ContourX-100 的關(guān)鍵部件均經(jīng)過(guò)嚴(yán)格篩選。設(shè)備的光學(xué)鏡頭采用高透光率光學(xué)玻璃,經(jīng)過(guò)特殊鍍膜處理,能減少光線反射與折射損耗,確保測(cè)量過(guò)程中光學(xué)信號(hào)的穩(wěn)定傳輸,提升成像質(zhì)量與測(cè)量準(zhǔn)確性。樣品臺(tái)選用高強(qiáng)度合金材料,表面經(jīng)過(guò)精密加工,平整度較高,可穩(wěn)定承載樣品,避免因樣品臺(tái)變形或不平整導(dǎo)致的測(cè)量誤差,同時(shí)合金材質(zhì)具備良好的耐磨性,長(zhǎng)期使用后仍能保持穩(wěn)定性能。設(shè)備外殼采用防腐蝕、抗沖擊的金屬材質(zhì),表面噴涂耐磨涂層,不僅能抵御實(shí)驗(yàn)室或工業(yè)環(huán)境中常見(jiàn)的化學(xué)試劑侵蝕,還能在意外碰撞時(shí)保護(hù)內(nèi)部精密光學(xué)組件與電路系統(tǒng),延長(zhǎng)設(shè)備使用壽命。
此外,設(shè)備的傳動(dòng)系統(tǒng)部件選用高精度耐磨材料,減少長(zhǎng)期運(yùn)行中的機(jī)械磨損,保障樣品臺(tái)移動(dòng)、鏡頭調(diào)節(jié)等動(dòng)作的平穩(wěn)性與準(zhǔn)確性;內(nèi)部電路基板采用耐高溫、抗干擾的材質(zhì),確保設(shè)備在不同環(huán)境溫度下穩(wěn)定運(yùn)行,同時(shí)降低外界電磁信號(hào)對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的干擾。這些參數(shù)與用材的合理搭配,為 ContourX-100 的穩(wěn)定運(yùn)行和可靠測(cè)量性能提供了有力支撐,用戶在選擇和使用時(shí),可結(jié)合自身樣品特性與實(shí)驗(yàn)需求,充分發(fā)揮設(shè)備的參數(shù)優(yōu)勢(shì)和優(yōu)質(zhì)用材帶來(lái)的穩(wěn)定性能。
解密布魯克 ContourX-100:參數(shù)與用材細(xì)節(jié)