探秘澤攸ZEM20掃描顯微鏡臺(tái)式電鏡新選擇

澤攸ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡是一款創(chuàng)新設(shè)計(jì)的國產(chǎn)科學(xué)儀器，在保持較小體積的同時(shí)實(shí)現(xiàn)了較高的成像性能。該設(shè)備采用模塊化設(shè)計(jì)思路，整體尺寸為560×480×480mm，重量約65kg，可放置在標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)臺(tái)上使用。其核心成像系統(tǒng)采用預(yù)對中鎢燈絲電子槍，配備電磁對中系統(tǒng)，有效延長了燈絲使用壽命。樣品室空間達(dá)到φ180mm×130mm，支持最大50mm的樣品座，為各類樣品觀察提供了充足空間。值得一提的是，該設(shè)備采用了獨(dú)特的真空分隔技術(shù)，將電子槍真空與樣品室真空分離，使得換樣后僅需1分鐘即可恢復(fù)高真空狀態(tài)。這種設(shè)計(jì)不僅提高了工作效率，還降低了對電子槍的污染風(fēng)險(xiǎn)。

澤攸ZEM20臺(tái)式掃描電子顯微鏡是一款國產(chǎn)臺(tái)式掃描電鏡，由安徽澤攸科技有限公司研發(fā)生產(chǎn)。該設(shè)備集成了創(chuàng)新技術(shù)，兼顧成像效果與便攜性，適用于多種應(yīng)用場景。其核心參數(shù)包括：分辨率優(yōu)于4nm@20kV，放大倍數(shù)可達(dá)36萬倍，加速電壓最大為20kV，并配備預(yù)對中鎢燈絲電子槍。電鏡采用真空分隔技術(shù)，使電子槍與樣品倉真空分離，換樣時(shí)間縮短至1分鐘以內(nèi)。樣品倉設(shè)計(jì)為超大容量，支持原位實(shí)驗(yàn)與實(shí)時(shí)監(jiān)測。此外，ZEM20可選配減速模式，幫助弱導(dǎo)電樣品在不噴金的條件下直接觀察。該型號(hào)在新材料、新能源、生物醫(yī)藥等領(lǐng)域均有應(yīng)用，以其用戶友好的界面和較高性價(jià)比，成為高校、科研機(jī)構(gòu)及企業(yè)的常用設(shè)備

在操作體驗(yàn)方面，ZEM20配備了高靈敏度的二次電子探測器和背散射電子探測器。其中，背散射電子探測器采用四象限設(shè)計(jì)，可通過軟件實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)成分襯度和形貌襯度的混合比例，幫助用戶獲得更豐富的樣品信息。設(shè)備還內(nèi)置了500萬像素的導(dǎo)航相機(jī)，用戶可通過實(shí)時(shí)圖像快速定位感興趣區(qū)域，大大提升了工作效率。

探秘澤攸ZEM20掃描顯微鏡臺(tái)式電鏡新選擇