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澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡便，僅需鼠標即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調(diào)節(jié)光闌。

ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡便，僅需鼠標即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調(diào)節(jié)光闌。

ZEM 20Pro單晶燈絲臺式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬倍，分辨率可達3nm。自動亮度對比度、自動聚焦、大圖拼接。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺，滿足不同實驗及檢測需求。

臺階儀-澤攸臺式掃描電鏡 實際操作中掌握一些技巧能顯著提升工作效率。對于表面粗糙的樣品，建議先從較低倍數(shù)開始觀察，找到特征區(qū)域后再提高倍數(shù)。調(diào)節(jié)像散時，可選擇樣品上的孔洞或邊緣作為參考，交替調(diào)節(jié)X、Y方向直至圖像在各個方向都清晰。

澤攸ZEM20掃描顯微鏡實用技巧與案例 ZEM20支持豐富的附件系統(tǒng)，擴展了其應(yīng)用范圍。原位實驗附件包括拉伸臺，可在觀察樣品的同時施加拉伸力，實時記錄材料變形和斷裂過程。加熱臺最高工作溫度可達1200℃，配合高溫樣品座，可觀察材料在加熱過程中的相變、燒結(jié)等動態(tài)變化。

澤攸ZEM20掃描顯微鏡選購配置指南 ZEM20支持豐富的附件系統(tǒng)，擴展了其應(yīng)用范圍。原位實驗附件包括拉伸臺，可在觀察樣品的同時施加拉伸力，實時記錄材料變形和斷裂過程。加熱臺最高工作溫度可達1200℃，配合高溫樣品座，可觀察材料在加熱過程中的相變、燒結(jié)等動態(tài)變化。