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澤攸 ZEM20：工業(yè)研發(fā)顯微表征平臺 制造業(yè)的研發(fā)環(huán)節(jié)（如半導體、航空航天、醫(yī)療器械），對產品微觀結構的超高分辨率表征與多維度分析是提升產品性能、突破技術瓶頸的關鍵。澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM20，憑借性能與強大的擴展能力，成為工業(yè)研發(fā)的核心顯微表征平臺。

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澤攸 ZEM18：科研機構微觀分析利器 對于經費有限、空間緊張的小型科研團隊或初創(chuàng)企業(yè)，澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15 以其高性價比與易維護性，成為微觀分析工作的實用工具，助力完成基礎科研與產品研發(fā)中的顯微觀察任務。

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