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臺式電鏡&臺階儀&原位分析
澤攸
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澤攸:電子元件批量檢測臺階儀 在小型電子廠元件抽檢、五金作坊配件尺寸檢查、高?;A實驗教學等場景中,無需復雜功能的臺階儀,更需要操作簡單、成本可控且能滿足基礎測量需求的設備。澤攸半自動臺階儀 JS100B 憑借簡潔設計、穩(wěn)定的基礎表現(xiàn),成為這類場景的實用選擇,幫助用戶高效完成臺階高度、薄膜厚度等日常檢測任務。
更新時間:2025-10-22
產品型號:JS2000B
瀏覽量:143
澤攸:小企業(yè)抽檢實用半自動臺階儀 在小型電子廠元件抽檢、五金作坊配件尺寸檢查、高?;A實驗教學等場景中,無需復雜功能的臺階儀,更需要操作簡單、成本可控且能滿足基礎測量需求的設備。澤攸半自動臺階儀 JS100B 憑借簡潔設計、穩(wěn)定的基礎表現(xiàn),成為這類場景的實用選擇,幫助用戶高效完成臺階高度、薄膜厚度等日常檢測任務。
更新時間:2025-10-22
產品型號:JS100B
瀏覽量:130
澤攸 ZEM20:工業(yè)研發(fā)顯微表征平臺 制造業(yè)的研發(fā)環(huán)節(jié)(如半導體、航空航天、醫(yī)療器械),對產品微觀結構的超高分辨率表征與多維度分析是提升產品性能、突破技術瓶頸的關鍵。澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM20,憑借性能與強大的擴展能力,成為工業(yè)研發(fā)的核心顯微表征平臺。
更新時間:2025-10-21
產品型號:
瀏覽量:153
澤攸 ZEM20:科研顯微研究平臺 在高校重點實驗室、科研機構的研究中,對微觀結構的超高分辨率分析與多維度表征是突破科研瓶頸的關鍵。澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM20,憑借性能與豐富的擴展功能,成為開展前沿微觀研究的高級平臺。
更新時間:2025-10-21
產品型號:
瀏覽量:151
澤攸 ZEM18:科研機構微觀分析利器 對于經費有限、空間緊張的小型科研團隊或初創(chuàng)企業(yè),澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15 以其高性價比與易維護性,成為微觀分析工作的實用工具,助力完成基礎科研與產品研發(fā)中的顯微觀察任務。
更新時間:2025-10-21
產品型號:
瀏覽量:131
澤攸 ZEM18:工業(yè)質檢顯微檢測助手 對于經費有限、空間緊張的小型科研團隊或初創(chuàng)企業(yè),澤攸臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15 以其高性價比與易維護性,成為微觀分析工作的實用工具,助力完成基礎科研與產品研發(fā)中的顯微觀察任務。
更新時間:2025-10-21
產品型號:
瀏覽量:141
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